X射線測(cè)鍍層測(cè)厚儀原理

測(cè)量原理：

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

韓國先鋒鍍層測(cè)厚儀

XRF-2020

可測(cè)單雙鍍層及合金鍍層

適應(yīng)于各類五金電鍍,電子連接器端子半導(dǎo)體等行業(yè)。

可測(cè)金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鋅鎳合金等鍍層。

應(yīng)用廣泛，適應(yīng)電鍍生產(chǎn)企業(yè)，產(chǎn)品來料檢測(cè)等。

儀器全自動(dòng)臺(tái)面

多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量,自動(dòng)雷射對(duì)焦。

X射線測(cè)鍍層測(cè)厚儀

韓國先鋒鍍層測(cè)厚儀

XRF-2020

測(cè)量電鍍層厚度

檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度

測(cè)量鍍金,鍍鋅,鍍鈀,鍍鉻,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍鎳,鍍鋅鎳合金等