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銅上鍍錫膜厚測(cè)試儀

更新時(shí)間:2024-11-03

簡(jiǎn)要描述:

銅上鍍錫膜厚測(cè)試儀檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度
X射線電鍍層測(cè)厚儀韓國(guó)XRF-2020L型
快速無(wú)損檢測(cè)電子電鍍層厚度

韓國(guó)MicroP微先鋒銅上鍍錫膜厚測(cè)試儀


功能:速無(wú)損檢測(cè)電子電鍍層厚度

儀器品牌:Micropioneer 微先鋒


儀器特點(diǎn):

全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量


儀器應(yīng)用:

檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導(dǎo)體等膜厚

可測(cè)單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等合金鍍層:

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等


儀器測(cè)量精度:

表層:±5%以內(nèi),第二層:±10%以內(nèi),第三層:±15%以內(nèi)


XRF-2020電鍍測(cè)厚儀的特征:可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量,避免直接接觸或破壞被測(cè)物。


薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外,也適用于無(wú)鉛焊錫的應(yīng)用。
備有250種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。


銅上鍍錫膜厚測(cè)試儀檢測(cè)范圍

鍍金:0.03-6um

鍍鈀:0.03-6um

鍍鎳:0.5-30um

鍍錫:0.3-50um

鍍銀:0.1-50um

鍍鉻:0.5-30um

鍍鋅:0.5-30um

鍍鋅鎳合金:0.5-30um


可測(cè)單雙鍍層及合金鍍層

適應(yīng)于各類五金電鍍,電子連接器端子等??蓽y(cè)金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鋅鎳合金等鍍層。

應(yīng)用廣泛,適應(yīng)電鍍生產(chǎn)企業(yè),產(chǎn)品來(lái)料檢測(cè)等。

規(guī)格型號(hào)如下圖

儀器型號(hào):XRF-2020H,XRF-2020L

XRF-2020L型:測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高3cm:臺(tái)面載重3kg

XRF-2020H型 測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高12cm:臺(tái)載重5kg



銅上鍍錫無(wú)損測(cè)厚儀X-RAY膜厚儀

測(cè)試范圍0.5-60um


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