X-RAY測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

更新時(shí)間：2024-11-03

簡(jiǎn)要描述：

X-RAY測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片可應(yīng)用各種X射線測(cè)厚儀品牌,用于校正測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)及添加應(yīng)用程序,鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片

　　X-RAY測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

　　標(biāo)準(zhǔn)片可應(yīng)用各種X射線測(cè)厚儀品牌

　　用于校正測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)及添加應(yīng)用程序

　　韓國(guó)XRF-2020測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

　　銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等

　　各種厚度范圍均可訂制，附帶標(biāo)準(zhǔn)證書(shū)

　　鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

　　X射線測(cè)厚儀在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。

　　是膜厚測(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品

　　根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。

　　以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

　　對(duì)于PCB、電子元器件，端子連接器，五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

　　鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片實(shí)物如圖所示：

X-RAY測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

　　銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀，鉑，銠各種厚度及規(guī)格均可訂制，校準(zhǔn)片均附帶證書(shū)

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